17 juin 2010 : Journée d'étude de la Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA)

Le 17/06/2010

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La Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA) organisera le 17 juin 2010 à l'UTC une journée d'étude sur le thème : "La sécurité et la fiabilité des systèmes électroniques face aux ruptures technologiques exigées par la génération des véhicules décarbonés".

  


L’électronique automobile est confrontée à un double challenge :


>>> maitriser les innovations technologiques des véhicules à faible ou zéro émission de la prochaine génération,
>>> savoir construire et démontrer la sécurité et la fiabilité des systèmes électroniques embarqués. La maitrise de la sécurité va s’appuyer sur la future norme ISO 26 262. Il faut également évaluer la fiabilité des systèmes électroniques du futur qui font appel à des technologies pour lesquelles le retour d’expérience n’est pas comparable aux retours des technologies matures.

L’électronique de puissance embarquée, les nouveaux systèmes de stockage d’énergie, les nouvelles technologies d’assemblage, l’intégration de composants et de systèmes complets dans un seul circuit intégré en sont des exemples typiques. Les architectures électroniques évoluent et innovent à leur tour en répartissant des fonctions de plus en plus complexes sur plusieurs calculateurs et/ou sur des composants non dédiés.

Cette journée d’étude a pour ambition d’échanger sur la maitrise de leur fiabilité et sécurité. Comment les évaluer, les valider et les justifier ?

> Plus d'informationsici
> Contact UTC : Zohra Cherfi




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