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Congrès International de Métrologie 2017

Le Congrès International de Métrologie se déroulera du 19 au 21 septembre 2017 (CIM 2017) à Paris, Porte de Versailles.

Le CIM est un événement unique à la croisée des chemins entre applications industrielles et R&D pour tout public et tous secteurs : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires.

Il permet :

  • d'améliorer ses processus de mesure, d'analyses et d'essais et mieux maîtriser leurs risques,
  • de suivre les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications industrielles.

Les sujets forts : métrologie 4.0 et usine du futur, nouvelle ISO 17025, métrologie pour les laboratoires de biologie, la santé et le pharmaceutique, développements dans l'énergie, nanotechnologies.

Le CIM 2017 est organisé conjointement avec ENOVA, le salon des technologies Electronique, IoT, Mesure, Vision et Optique.

Programme et infos sur le site www.cim2017.com