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Microscopie à Force Atomique

VOS BESOINS


Imager la surface à l‘échelle micrométrique avec une résolution nanométrique par Microscopie à Force Atomique (AFM) afin d‘en évaluer la structure, la morphologie et les paramêtres de rugosité.

Un AFM mesure la morphologie d‘un échantillon en balayant sa surface à l‘aide d‘une pointe três fine (rayon de courbure 10 nm) fixée à l‘extrémité d‘un palpeur mécanique. L‘AFM est particuliêrement adaptée aux échantillons de faible rugosité. Sa résolution permet de mettre en évidence les moindres détails de la surface.

Il existe de nombreux modes d‘imagerie topographiques ainsi que des modes d‘imagerie physiques qui permettent de mesurer de nombreuses propriétés telles que les force d‘adhésion, les forces de frottement, etc...

NOS MOYENS

Bruker Dimension Icon

Le Dimension Icon de Bruker permet la caractérisation topographique de surfaces sur des dimensions latérales comprises entre 1 et 90 μm avec une échelle verticale maximale de 10 μm. Il peut travailler aussi bien à l‘air qu‘en milieu liquide.

Fiche technique

Mode d'imagerie

  • Mode Contact
  • Tapping Mode
  • Peak Force Mode
  • Lateral Force Microscopy

En complément

Préparation de surfaces : Tronçonneuses, poliseuses, électro-polisseuses...
Essais mécaniques : Indenteur, micro-indenteur, Nanoindenteur, DMA...
Observations : MEB, Microscopes interférométrique, confocal, à gradient de focus, Profilomètre tactile...

NOS COMPETENCES


  • Traitements d‘image et Morphologie de surface :

    • Nous maitrisons parfaitement les traitements d‘image permettant d‘extraire les informations pertinentes de l‘imagerie AFM. Nous avons le savoir-faire pour extraire des paramêtres morphologiques tels que les paramêtres de rugosité ainsi que leur pertinence en fonction de l‘échelle de travail.

  • Nanotribologie :

    • Nous avons développé une méthode fiable et rapide de calibration des forces latérales ce qui nous permet de faire des mesures quantitatives de force de frottement. Nous sommes à l‘origine du développement du mode circulaire qui permet de mesurer instantanément et avec une excellente précision le coefficient de frottement à l‘échelle nanométrique et de faire des essais d‘usure à l‘échelle nanométrique.

NOS PUBLICATIONS


1) Vencl, A., Mazeran, P.-E., Bellafkih, S., Noël, O.
Assessment of wear behaviour of copper-based nanocomposite at the nanoscale
(2018) Wear, 414-415, pp. 212-218.
Résumé
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2) Noel, O., Vencl, A., Mazeran, P.-E.
Exploring wear at the nanoscale with circular mode atomic force microscopy
(2017) Beilstein Journal of Nanotechnology, 8 (1), pp. 2662-2668.
Résumé
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3) Noel, O., Mazeran, P.-E., Nasrallah, H.
Sliding velocity dependence of adhesion in a nanometer-sized contact
(2012) Physical Review Letters, 108 (1), art. no. 015503, .
Résumé
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4) Nasrallah, H., Mazeran, P.-E., Noël, O.
Circular mode: A new scanning probe microscopy method for investigating surface properties at constant and continuous scanning velocities
(2011) Review of Scientific Instruments, 82 (11), art. no. 113703, .
Résumé
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5) Jouini, N., Gautier, A., Revel, P., Mazeran, P.-E., Bigerelle, M.
Multi-scale analysis of high precision surfaces by Stylus Profiler, Scanning White-Light Interferometry and Atomic Force Microscopy
(2009) International Journal of Surface Science and Engineering, 3 (4), pp. 310-327.
Résumé
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6) Mazeran, P.-E., Beyaoui, M.
Initiation of sliding of an elastic contact at a nanometer scale under a scanning force microscope probe
(2008) Tribology Letters, 30 (1), pp. 1-11.
Résumé
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7) Mazeran, P.-E.
Effect of sliding velocity on capillary condensation and friction force in a nanoscopic contact
(2006) Materials Science and Engineering C, 26 (5-7), pp. 751-755.
Résumé
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8) Mazeran, P.-E., Odoni, L., Loubet, J.-L.
Curvature radius analysis for scanning probe microscopy
(2005) Surface Science, 585 (1-2), pp. 25-37.
Résumé
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9) Berquand, A., Mazeran, P.-E., Pantigny, J., Proux-Delrouyre, V., Laval, J.-M., Bourdillon, C.
Two-step formation of streptavidin-supported lipid bilayers by PEG-triggered vesicle fusion. Fluorescence and atomic force microscopy characterization
(2003) Langmuir, 19 (5), pp. 1700-1707.
Résumé
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10) Berquand, A., Mazeran, P.-E., Laval, J.-M.
Influence of volume and surface properties on phase contrast in tapping mode atomic force microscopy
(2003) Surface Science, 523 (1-2), pp. 125-130.
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11) Mazeran, P.-E., Loubet, J.-L.
Normal and lateral modulation with a scanning force microscope, an analysis: Implication in quantitative elastic and friction imaging
(1999) Tribology Letters, 7 (4), pp. 199-212.
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12) Mazeran, P.-E., Loubet, J.-L.
Force modulation with a scanning force microscope: An analysis
(1997) Tribology Letters, 3 (1), pp. 125-132.
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13) Mazeran, P.-E., Loubet, J.-L., Martelet, C., Theretz, A.
Under buffer SFM observation of immunospecies adsorbed on a cyano grafted silicon substrate
(1995) Ultramicroscopy, 60 (1), pp. 33-40.
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Contact

Responsables de l'AFM
Mazeran Pierre-Emmanuel
Tél : 06 35 90 70 38 | Contacter par mail

Directeur du laboratoire ROBERVAL
Jérôme Favergeon
Tél : 03 44 23 45 33 | Contacter par mail