Service d’Analyse Physico-Chimique
Le Service d’Analyse Physico-Chimique (SAPC) met à disposition de la communauté scientifique des compétences et équipements en caractérisation et analyse des matériaux relevant du large éventail de thématiques développées par les unités de recherche (alliages, composites, céramiques, tissus biologiques, procédés, aliments…).
Le service est doté des moyens modernes dans les domaines de la microscopie électronique analytique (ESEM/MEB, TEM/STEM, P‑FIB), optique conventionnelle, confocale à balayage LASER et à champ proche (AFM). Il est équipé en spectroscopies élémentaires (rayons X, AA, SDL) et moléculaires (IR, RMN), ainsi qu’en diffractométrie des rayons X (PDF5+, EVA, TOPAS) et nano-indentation.
Cinq permanents sont affectés au service. Qualifiés et régulièrement formés, attentifs aux spécificités des diverses disciplines, ils assurent les observations et analyses à la demande en étroite collaboration avec les chercheurs issus de toutes les disciplines.

Microscope électronique à balayage environnemental
Quanta-FEG 250 ESEM
Thermo-Fisher
Principaux accessoires
Platine à effet Peltier
Détecteurs STEM, wet STEM, électrons rétrodiffusés…
Spectromètre à émission de rayons X dispersif en énergie
Esprit
Bruker
Matériel de préparation
Métallisation Au/Pd
Dépôt de carbone

Microscope électronique à transmission
2100F – 200 kV/émission de champ
JEOL
Principaux accessoires
STEM
Caméras (GATAN)
Portes objets simple tilt, tilt/rotation
Support de grilles en béryllium (analyse)
Spectromètre à émission de rayons X dispersif en énergie
JEOL
Matériel de préparation

Microscope confocal à balayage LASER
LSM 980 Airyscan
ZEISS
Lasers (nm) : 405, 488, 543 et 633
Modes d’imagerie : Airyscan, FRAP/FRET
Acquisition multicanal
Z‑stack, time-lapse
Objectifs divers air/huile
Platine motorisée XYZ
Principaux accessoires
Incubateur T°C/%H2O
Matériel de préparation

Diffractomètre à rayons X (poudres)
D8 Advance/Lynxeye-XE (Cu Kα)
Bruker
Pilotage et interprétation/identification
Suite logicielle EVA/TOPAS
Base PDF‑5+
Principaux accessoires
Couteau anti diffusion automatique
Fente de sortie automatique
Divers supports pour échantillons : poudres, solides, faibles quantités…

Spectromètre de RMN (liquide)
RMN 400 MHz AVANCE III
Bruker
Aimant supraconducteur ASCEND, champ magnétique 9,4 T
Console AVANCE III
Sonde 5 mm large bande, SmartProbe BBFO (19F et 31P-15N, gradient Z)
Principaux accessoires
Passeur d’échantillons 60 positions (B‑ACS 60)
Accessoire pour température variable B‑VT 3200

Microscope à Force Atomique – AFM
DIMENSION Icon
Bruker
Principaux accessoires
Enceinte d’isolation thermique/vibrations
Modes d’imagerie : contact, contact intermittent…
Gamme XYZ : 90×90×10 μm

Microscope à Balayage à Faisceau d’Ions Plasma Focalisés (Plasma – FIB)
Helios 5 Hydra CX
Thermo-Fisher
Plasmas : Xe, Ar, O, N
Spectromètre à Émission de Rayons X dispersif en Énergie
Diffraction d’Électrons Rétrodiffusés (EBSD)
AZTEC/HKL/Crystal
Oxford Instruments

Spectromètre à Décharge Luminescente (GDOES)
GD-PROFILER 2
Horiba - Jobin-Yvon
Caractéristiques principales
Source pulsée
Gamme spectrale 110 – 800 nm
Mesure de tous les éléments d’intérêt

Spectromètre Infrarouge
Summit FTIR
Nicolet
Principaux accessoires
Porte échantillons transmission
Porte échantillons réflexion
Presse hydraulique

Spectromètre d’Absorption Atomique (Spectrométrie de Flamme)
iCE3300
Thermo-Fisher
Principaux accessoires
Flamme Air/Acétylène
Lampes : Na, Mg, K, Ca, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Mo

Microscopes Optiques Numériques HR
VHX system 6000
VHX-X1
Keyence
Principales caractéristiques
Objectifs X20-100, X100-500, X500-2500
Module 3D
Motorisation XYZ
Course XY : 100X100 mm

Nano-Indenteur
G‑200
Agilent