Recherchez sur le site

Generic filters

Ser­vice d’Analyse Physico-Chimique

Le Ser­vice d’Analyse Phy­si­co-Chi­mique (SAPC) met à dis­po­si­tion de la com­mu­nau­té scien­ti­fique des com­pé­tences et équi­pe­ments en carac­té­ri­sa­tion et ana­lyse des maté­riaux rele­vant du large éven­tail de thé­ma­tiques déve­lop­pées par les uni­tés de recherche (alliages, com­po­sites, céra­miques, tis­sus bio­lo­giques, pro­cé­dés, ali­ments…).

Le ser­vice est doté des moyens modernes dans les domaines de la micro­sco­pie élec­tro­nique ana­ly­tique (ESEM/MEB, TEM/STEM, P‑FIB), optique conven­tion­nelle, confo­cale à balayage LASER et à champ proche (AFM). Il est équi­pé en spec­tro­sco­pies élé­men­taires (rayons X, AA, SDL) et molé­cu­laires (IR, RMN), ain­si qu’en dif­frac­to­mé­trie des rayons X (PDF5+, EVA, TOPAS) et nano-inden­ta­tion.

Cinq per­ma­nents sont affec­tés au ser­vice. Qua­li­fiés et régu­liè­re­ment for­més, atten­tifs aux spé­ci­fi­ci­tés des diverses dis­ci­plines, ils assurent les obser­va­tions et ana­lyses à la demande en étroite col­la­bo­ra­tion avec les cher­cheurs issus de toutes les disciplines.

Microscope Électronique à Balayage

Micro­scope élec­tro­nique à balayage envi­ron­ne­men­tal
Quan­ta-FEG 250 ESEM
Ther­mo-Fisher

Prin­ci­paux acces­soires
Pla­tine à effet Pel­tier
Détec­teurs STEM, wet STEM, élec­trons rétro­dif­fu­sés…
Spec­tro­mètre à émis­sion de rayons X dis­per­sif en éner­gie
Esprit
Bru­ker

Maté­riel de pré­pa­ra­tion
Métal­li­sa­tion Au/Pd
Dépôt de carbone

Microscope Électronique à Transmission

Micro­scope élec­tro­nique à trans­mis­sion
2100F – 200 kV/émission de champ
JEOL

Prin­ci­paux acces­soires
STEM
Camé­ras (GATAN) 
Portes objets simple tilt, tilt/rotation
Sup­port de grilles en béryl­lium (ana­lyse)

Spec­tro­mètre à émis­sion de rayons X dis­per­sif en éner­gie
JEOL

Maté­riel de préparation

Microscope Confocal à Balayage LASER

Micro­scope confo­cal à balayage LASER
LSM 980 Airys­can
ZEISS

Lasers (nm) : 405, 488, 543 et 633
Modes d’imagerie : Airys­can, FRAP/FRET
Acqui­si­tion mul­ti­ca­nal
Z‑stack, time-lapse
Objec­tifs divers air/huile
Pla­tine moto­ri­sée XYZ

Prin­ci­paux acces­soires
Incu­ba­teur T°C/%H2O

Maté­riel de préparation

Diffractomètre à rayons X (poudres)

Dif­frac­to­mètre à rayons X (poudres)
D8 Advan­ce/­Lyn­xeye-XE (Cu Kα)
Bru­ker

Pilo­tage et interprétation/identification
Suite logi­cielle EVA/TOPAS
Base PDF‑5+

Prin­ci­paux acces­soires
Cou­teau anti dif­fu­sion auto­ma­tique
Fente de sor­tie auto­ma­tique
Divers sup­ports pour échan­tillons : poudres, solides, faibles quantités…

Résonance Magnétique Nucléaire

Spec­tro­mètre de RMN (liquide)
RMN 400 MHz AVANCE III
Bru­ker

Aimant supra­con­duc­teur ASCEND, champ magné­tique 9,4 T
Console AVANCE III
Sonde 5 mm large bande, Smart­Probe BBFO (19F et 31P-15N, gra­dient Z)

Prin­ci­paux acces­soires
Pas­seur d’échantillons 60 posi­tions (B‑ACS 60)
Acces­soire pour tem­pé­ra­ture variable B‑VT 3200

Microscope à Force Atomique

Micro­scope à Force Ato­mique – AFM
DIMENSION Icon
Bru­ker

Prin­ci­paux acces­soires
Enceinte d’isolation thermique/vibrations
Modes d’imagerie : contact, contact inter­mit­tent…
Gamme XYZ : 90×90×10 μm

Plasma – FIB

Micro­scope à Balayage à Fais­ceau d’Ions Plas­ma Foca­li­sés (Plas­ma – FIB)
Helios 5 Hydra CX
Ther­mo-Fisher
Plas­mas : Xe, Ar, O, N

Spec­tro­mètre à Émis­sion de Rayons X dis­per­sif en Éner­gie
Dif­frac­tion d’Électrons Rétro­dif­fu­sés (EBSD)

AZTEC/HKL/Crystal
Oxford Ins­tru­ments

Spectromètre à Décharge Luminescente

Spec­tro­mètre à Décharge Lumi­nes­cente (GDOES)
GD-PROFILER 2
Hori­ba - Jobin-Yvon

Carac­té­ris­tiques prin­ci­pales
Source pul­sée
Gamme spec­trale 110 – 800 nm
Mesure de tous les élé­ments d’intérêt

Spectromètre Infrarouge

Spec­tro­mètre Infra­rouge
Sum­mit FTIR
Nico­let

Prin­ci­paux acces­soires
Porte échan­tillons trans­mis­sion
Porte échan­tillons réflexion
Presse hydrau­lique

Spectromètre d’Absorption Atomique

Spec­tro­mètre d’Absorption Ato­mique (Spec­tro­mé­trie de Flamme)
iCE3300
Ther­mo-Fisher

Prin­ci­paux acces­soires
Flamme Air/Acétylène
Lampes : Na, Mg, K, Ca, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Mo

Microscopie Optique à Haute Résolution

Micro­scopes Optiques Numé­riques HR
VHX sys­tem 6000
VHX-X1
Keyence

Prin­ci­pales carac­té­ris­tiques
Objec­tifs X20-100, X100-500, X500-2500
Module 3D
Moto­ri­sa­tion XYZ
Course XY : 100X100 mm

Nano-Indenteur

Nano-Inden­teur
G‑200
Agilent